一、測試服務包括：
老化測試
沛頓依靠高效的老化測試設備提供老化測試服務，包含監控老化(MBI)、動態老化(DBI)和測試(TDBI)。老化服務能涵蓋到當前所有產品，包括內存芯片(DRAM)、系統級封裝芯片(SIP)、嵌入式存儲芯片(eMCP)。現有老化設備可支持 -10 °C 到125 °C的溫度區間。
終測
沛頓為DRAM、Flash類產品提供終測服務，現有自動測試機能測試到最新一代高速、高容量的存儲芯片，包含標準型DDR4以及嵌入式LPDDR4。
自動測試機可支持 -55 °C 到125 °C的溫度區間。
激光打標 / 外觀檢測
客戶商標和追溯碼將由激光打標機刻在產品表面，使產品擁有完整的制造追溯信息。我們的自動外觀掃描機將嚴格保證芯片在出貨前達到客戶期望對芯片尺寸和錫球特性的品質要求。
設備品牌 設備類別 可應用產品 EO 激光打印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 大族 激光打印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 惠特 激光打印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP ICOS 外觀檢測機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP INTEKPLUS 外觀檢測機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP Vitrox 外觀檢測機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP
包裝
沛頓擁有完整的包裝線，提供烘烤(125 ℃)、真空包裝、卷帶包裝服務，以及代客出貨至客戶或終端客戶。
二、測試機臺能力
自動測試機：
類別 設備品牌 設備型號 適用產品 存儲器 愛德萬 H5620 DDR3, DDR4, LPDDR4 愛德萬 HSM8G DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 愛德萬 T5503HS2 DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 愛德萬 T5503HS DDR3, DDR4, LPDDR3, LPDDR4 愛德萬 T5503A DDR3, eMCP(LPDDR2/3) 愛德萬 T5588 DDR3, DDR4, eMCP(LPDDR2), MCP(LPDDR2/NAND), LPDDR4 愛德萬 T5593 eMCP(LPDDR2) DI AF8652 DDR3, DDR4, eMCP, eMMC 鴻勁 HT3309 eMMC/eMCP Flash 鴻勁 HT3350 SSD 邏輯&混合信號 致茂 3380D Logic & Mixed-signal
自動機械手：
類別 設備品牌 設備型號 適用產品 成品測試 愛德萬 M6242 BGA, CSP, LGA, TSOP 愛德萬 M6542 BGA, CSP, LGA, TSOP Techwing TW350H BGA, CSP, LGA, TSOP 沛頓(自制) PH01 Strip of LGA/BGA
三、測試工程能力
●提供完整的測試方案，以及在客戶協助下轉化測試程序。
●按客戶要求提供標準工程樣品相關性分析。
●對異常批次展開電子失效模式分析、物理失效模式分析以確定失效模式。
●自動化系統能最最大程度預防人為作業錯誤，也提高生產效率。
●提供內存芯片的驗證測試服務。
四、設計能力
●老化板設計
●測試板設計
●自動測試機測試應用板設計
●各類機械手配合治具設計
